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Musterdatenblatt zum Vergleich

EMVA 1288 Standard Release 3.1 erscheint Ende 2016

Der EMVA 1288 Standard erlaubt mit wenigen Parametern differenzierte und zuverlässige Aussagen über die ideale Kamera für gegebene Einsatzfälle. Der Standard spielt eine wesentliche Rolle in den Entwicklungsabteilungen der Kamerahersteller und hat dazu beigetragen, dass die Qualität von Kameras sich verbessert hat. Seit November 2010 ist Release 3 des Standards verfügbar und die Akzeptanz des EMVA 1288 wächst ebenso kontinuierlich wie die Zahl der verfügbaren 1288 Datenblätter.

 Das neue EMVA 1288 Musterdatenblatt enthält eine zusammenfassende Seite, auf der alle wesentlichen Parameter einheitlich zusammengestellt sind. (Bild: EMVA European Machine Vision Association)

Das neue EMVA 1288 Musterdatenblatt enthält eine zusammenfassende Seite, auf der alle wesentlichen Parameter einheitlich zusammengestellt sind. (Bild: EMVA European Machine Vision Association)

Eine Reihe von Unternehmen bieten bereits Schulungsangebote oder Testequipment bzw. EMVA 1288 kompatible Kameravermessung als Serviceleistungen an:

EMVA 1288 Geräte/Messservice/Consulting

  • •  Aeon, Hanau Deutschland, www.aeon.de/de/emva_1288.html
  • •  Aphesa, Belgien, www.aphesa.com
  • •  Image Engineering, Köln, www.image-engineering.de
EMVA 1288 Kurse

06.-07.12.16 in München (Framos): Grund- und Aufbaukurs

08.-10.02.17 in Hanau (Aeon): Bildsensoren, Grund- und Aufbaukurs

Die nun anstehende Release 3.1 ergänzt den Standard um ein wesentliches Feature: Eine klare, aber auch flexible Beschreibung eines einheitlichen Datenblattes, mit dem die Daten verschiedenere Kameras direkt miteinander verglichen werden können. Die Arbeit an dem Musterdatenblatt ist inzwischen abgeschlossen und die Release 3.1 wird bis Ende 2016 verfügbar sein. Ansonsten hat sich die derzeit noch aktuelle Release 3 größtenteils bewährt; weshalb nur wenige Änderungen und Ergänzungen erfolgten, die nachfolgend beschrieben werden.

 Neu im EMVA 1288 Release 3.1 sind Profile des Dunkeles (dark signal nonuniformity DSNU) und des Empfindlichkeitses (photo response nonuniformity PRNU). Im Beispielsind die vertikalen DSNU-Profile zu sehen. (Bild: EMVA European Machine Vision Association)

Neu im EMVA 1288 Release 3.1 sind Profile des Dunkeles (dark signal nonuniformity DSNU) und des Empfindlichkeitses (photo response nonuniformity PRNU). Im Beispielsind die vertikalen DSNU-Profile zu sehen. (Bild: EMVA European Machine Vision Association)

Musterdatenblatt

Das neue Musterdatenblatt enthält eine zusammenfassende Seite, auf der alle wesentlichen Parameter einheitlich zusammengestellt sind, so dass Sie direkt miteinander verglichen werden können. Auf der Seite sind auch die beiden wichtigsten Messkurven abgebildet: die Photontransferkurve und die doppelt-logarithmische SNR-Kurve. Dieser Zusammenfassung folgen alle Messkurven, die nach dem Standard gemessen werden müssen, wobei die Freiheit besteht, zusätzliche Daten und Messkurven zu ergänzen. Mit dem nun für die Release 3.1 verabschiedeten Musterdatenblatt können alle Kamerahersteller die Kameradaten einheitlich und vergleichbar, aber dennoch optimal an der Kamera angepasst publizieren.

Änderungen und Ergänzungen

Die wichtigste Änderung ist eine verbesserte Beschreibung der Linearität des Kamerasignals. Bisher wurde diese als absolute Abweichung angegeben. Wegen des zunehmend höheren Signalumfangs lässt sich damit die Linearität bei niedrigen Helligkeiten allerdings nicht gut beschreiben. Daher wird die Abweichung in der Release 3.1 nun relativ zum Kamerasignal berechnet. Des Weiteren ist die Beschreibung der Inhomogenität mit einer Standardabweichung nicht aussagekräftig genug und die Spektrogrammmethode nicht einfach zu verstehen. Daher wurden in der Release 3.1 zur Beschreibung der Inhomogenität horizontale und vertikale Profile des Dunkelbilds und des Empfindlichkeitsbildes ergänzt. Damit lassen sich in einer Grafik anschaulich alle Inhomogenitätseffekte darstellen. In der Arbeitsgruppe zum EMVA 1288 Bildverarbeitungsstandard können alle Kamera- und Bildsensorhersteller, Systemintegratoren, Distributoren und entsprechende Forschungsinstitute mitarbeiten.

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