Technisch sauber

Schnelle Partikeldetektion dank polarisierter Beleuchtung

Ob reflektierend oder nicht-reflektierend: Das Mikroskopiesystem CIX90 erkennt, analysiert und klassifiziert alle Partikel – und das im ersten Scan. Das vorkonfigurierte Mikroskopiesystem zur Partikeldetektion in der technischen Sauberkeitsanalyse ist mit einer neuen Beleuchtungsmethode um den Faktor zwei schneller als bisherige Systeme.
Technische Sauberkeit spielt eine zentrale Rolle hinsichtlich Sicherheit, Lebensdauer und Performance von hochbeanspruchten Bauteilen, z.B. in den Bereichen Luftfahrt und Automotive. Bereits kleinste Partikel, die sich im Produktionsprozess auf den Komponenten ablagern, können die Lebensdauer der Werkstücke deutlich verkürzen. Diese gilt es daher frühzeitig zu erkennen, zu analysieren und zu quantifizieren. Der kompakte Aufbau des Systems garantiert reproduzierbare Beobachtungsbedingungen, eine optimale Bildqualität sowie eine Echtzeit-Verarbeitung von Partikeln und Verunreinigungen in einer Größe von 2,5 bis 47mm. Dank einer innovativen Beleuchtungsmethode arbeitet das Mikroskop besonders effizient. Da es das einfallende Licht gleichzeitig polarisiert, erkennt es nicht-reflektierende sowie reflektierende Partikel und Fasern bereits während eines einzigen Scans. Die für die Prüfung benötigte Zeit reduziert sich dadurch um den Faktor zwei. Normalerweise erscheinen Partikel auf der zu untersuchenden Filtermembran im Bild dunkel vor hellem Hintergrund. Deshalb sind reflektierende Partikel wie Metalle bislang nur durch Veränderung der Beleuchtungsmethode in einem zweiten Scan als solche erkennbar. Die Partikel werden im Rahmen der Erfassung automatisch analysiert, in dem in Echtzeit entstehenden Übersichtsbild angezeigt und entsprechend des ausgewählten Standards nach Klassen sortiert. Umfangreiche Optionen zur schnellen Überprüfung, Überarbeitung und erneuten Berechnung aller bei der Probe festgestellten Partikel vor der Dokumentation der Ergebnisse runden das Gesamtpaket ab. So werden die Miniaturansichten aller festgestellten Unsauberkeiten und dimensionellen Messungen in jeder Klasse miteinander verknüpft. Große Verunreinigungen werden bildübergreifend detektiert und klassifiziert. Die gesamte gescannte Membran wird automatisch zur erneuten Verarbeitung oder Berechnung gespeichert. Reklassifizierungen sind ebenfalls möglich. Indem man einen anderen Standard auswählt, aktualisiert das System sofort alle Ergebnisse automatisch und zeigt die Änderungen in allen Ansichten und Klassen an. Das System verfügt über einen integrierten Kalibrierungsobjektträger für die Systemverifizierung.

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Technisch sauber
Das CIX90 polarisiert das einfallende Licht und erkennt somit nicht-reflektierende sowie reflektierende Partikel und Fasern bereits während eines einzigen Scans. (Bild: Olympus Deutschland GmbH)


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