ISO16610-Keynote für inVISION Day Metrology
ISO16610-Keynote für inVISION Day Metrology
Am 10. Juni findet der inVISION Day Metrology 2026 – die digitale Konferenz für Messtechnik & ZfP – statt. Die Keynote „The Filter Toolbox ISO16610 for Surface Topography – Theory & Application…
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  • Keynote: The Filter Toolbox ISO16610

    Keynote: The Filter Toolbox ISO16610

    Die Keynote ‚The Filter Toolbox ISO16610 for Surface Topography – Theory & Application Examples‘ wird von Prof. Dr. Jörg Seewig…


  • Session 1: 3D Scanning

    Session 1: 3D Scanning

    Zur ersten Session ‚3D Scanning‘ (Start 10:00 Uhr) begrüßen wir u.a. AT Sensors (Boosting Time-to-Market in Industrial Metrology with 3D…


  • Session 2: Automated Metrology

    Session 2: Automated Metrology

    Weiter geht es zur zweiten Session ‚Inline Metrology‘ um 11:10 Uhr u.a. mit Vorträgen von Kistler & AIT Goehner (Industrial…


  • Session 3: Surface Inspection

    Session 3: Surface Inspection

    Um 12:30 Uhr startet Session 3 mit dem Thema ‚Surface Inspection‘.


  • Session 4: NDT & CT/X-Ray

    Session 4: NDT & CT/X-Ray

    In der vierten Session (ab 13:40 Uhr) dreht sich alles um ‚NDT & CT/X-Ray‘.


  • Innovations selected by EMVA

    Innovations selected by EMVA

    Auch in diesem Jahr präsentiert der europäische Bildverarbeitungsverband vier innovative Firmen.


  • Mehr als eine Kamera

    Contact Image Sensoren (CIS) haben sich in den vergangenen Jahren…


  • Bei Hitze & Vakuum

    Konfokal-chromatische Messsysteme zählen zu den präzisesten berührungslosen Verfahren für die…


  • Gegen das Vergessen

    Ändern sich die Rahmenbedingungen in der Produktion, müssen Verantwortliche schnell…


  • 3D neu gedacht

    Mit dem Dtect Object 3D läutet Sensopart eine neue Generation…


  • 60.000 Artikel

    Mit der KI-basierten Pickrobotik von Sereact automatisiert der Logistikdienstleiser MS…